技術(shù)參數(shù)
1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根據(jù)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射線熒光測(cè)試方法；
2.原始射線從上至下；
3.X-射線管高壓設(shè)定可調(diào)節(jié)至最佳的應(yīng)用：50kV，40kV或30kV；
4.單個(gè)0.3mm直徑(12 mils)的標(biāo)準(zhǔn)視準(zhǔn)器，在附加費(fèi)用的基礎(chǔ)上可選擇0.05×0.3 mm(2×12 mil)帶槽視準(zhǔn)器；或直徑0.1mm;或直徑0.2mm；或0.4X0.4mm方形。
5.測(cè)量箱外部尺寸：（高×寬×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大約為105kg（120lbs）；
6.帶槽箱體的內(nèi)部尺寸：（高×寬×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）帶向上回轉(zhuǎn)箱門(mén)；
7.嵌入式固定的測(cè)試件支承板，需要時(shí)可移去以適用于大件的超出尺寸的測(cè)試工件。
8.從X-射線頭部（X-射線管，成比例的反射接收器及視準(zhǔn)器）至測(cè)試件平面支承板有三種可選擇的固定距離。需要的設(shè)定距離（見(jiàn)背面）必須在定貨時(shí)明確（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定：中間位置）
9.試件查看用彩色攝像機(jī)
10.帶有LED狀態(tài)指示燈的測(cè)量開(kāi)始/結(jié)束按鈕與測(cè)試箱集成在一體
主要特點(diǎn)
FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows® 的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測(cè)量方向從上往下。
XDL®-B 的特色是獨(dú)特的距離修正方法。DCM方法（距離控制測(cè)量）自動(dòng)地修正在不同的測(cè)量距離上光譜強(qiáng)度的差別。對(duì)于XDL®-B 帶測(cè)量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在復(fù)雜幾何外形的測(cè)試工件和不同測(cè)量距離上實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)便測(cè)量的可能性。特別針對(duì)微波腔體之類(lèi)樣品的底部鍍層厚度進(jìn)行測(cè)量。
儀器介紹:
適用于Windows®2000或Windows® XP的真Win32位程序帶在線幫助功能。
頻譜庫(kù)中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的產(chǎn)品。
能通過(guò)“應(yīng)用工具箱”(由一個(gè)帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤(pán)和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊組成)使應(yīng)用的校準(zhǔn)簡(jiǎn)單化。
畫(huà)中畫(huà)測(cè)試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動(dòng)焦距功能放大試件圖像；計(jì)算機(jī)生成的刻度化的瞄準(zhǔn)十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測(cè)量的距離，見(jiàn)背面）
圖形化的用戶(hù)界面，測(cè)試件的圖像顯示可插入于測(cè)試報(bào)告中
對(duì)試件與視準(zhǔn)器之間的距離進(jìn)行視覺(jué)控制的校正（DCM方法）范圍可達(dá)80mm(3.2〞)
測(cè)量模式用于：
單、雙及三層鍍層系統(tǒng)
雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測(cè)量
雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測(cè)量和分析（兩層的厚度和合金成分都能被測(cè)量）
能分析多達(dá)四種金屬成分的合金，包括金的開(kāi)數(shù)分析的特殊功能。對(duì)電鍍?nèi)芤旱姆治瞿芰蛇_(dá)包含一或二種陽(yáng)離子的電鍍液。
可通過(guò)RS-232接口或使用網(wǎng)絡(luò)環(huán)境控制命令設(shè)定數(shù)據(jù)的輸出和輸入以實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的遠(yuǎn)程控制。
通過(guò)使用可選擇的帶合成條形碼讀入器的鍵盤(pán)實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品選擇。
可編程的應(yīng)用項(xiàng)圖標(biāo)，用于快速產(chǎn)品選擇。
完整的統(tǒng)計(jì)功能，SPC圖，標(biāo)準(zhǔn)的概率圖和矩形圖評(píng)估。
報(bào)告生成，數(shù)據(jù)輸出
語(yǔ)言可選擇：英語(yǔ)，德語(yǔ)，法語(yǔ)，意大利語(yǔ)，西班牙語(yǔ)，及中文
菜單中的某些選擇項(xiàng)可授權(quán)使用
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